Сканирующий зондовый микроскоп фирмы НТ-МДТ Solver Pro

Микроскоп предназначен для проведения атомно-силовых измерений топологии поверхности образцов на воздухе.

Поле обзора микроскопа в плоскости составляет 100 мкм, по высоте — 10 мкм. Разрешение микроскопа в плоскости составляет порядка десяти нм, разрешение по высоте — единицы ангстрем. Типичный радиус кривизны используемых кантилеверов для АСМ - 10-20нм. Микроскоп оборудован системой активной виброзащиты для подавления влияния внешних шумов. Микроскоп оборудован оптической системой с разрешением до 10 мкм, для точного позиционирования образцов.

Атомно-силовое изображение массива треугольных ферромагнитных частиц.	Магнито-силовое изображение треугольных ферромагнитных частиц.